大锥度整流罩和接近半球的壳体很难从曲率中心检验

因试件所对的角度非常大。要同时检验整个零件就需要F数非常高的检测光学器件。虽然通过依序观察孔径局部表面构成整个零件的镶嵌图像

但这显然不够理想

也不适用于大批量生产。本文叙述一种用于检验广角同心整流罩和壳体的双通零位检验法

它大大减小了光学检测器件所需的F数

在给出理想零位的同时仍可充满全口径

该检验包括与整流罩或壳体保持密切接触的辅助曼金镜

以及利用试件内表面的齐明点。