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纸质出版:1985
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会议报导[J]. 光学技术, 1985,(4).
会议报导[J]. 光学技术, 1985,(4). DOI:
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兵器工业部于一九八五年四月十六至十九日在北京召开了“透射式光学角规”科研成果鉴定会。参加会议的有中国计量科学院、航空工业部三○四所、中国科学院长春光机所、北京市标准计量局等二十个单位三十多名代表。与会代表一致认为
由北京工业学院和云南光学仪器厂共同研制的透射式光学角规是一种新的高精度的小角度检测手段。它可用于各类自准直仪
经纬仪和分光仪秒盘等小角度测量仪器示值误差的检测
亦可检测二维示值误差。
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