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纸质出版:1985
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会议报导(二)[J]. 光学技术, 1985,(6).
会议报导(二)[J]. 光学技术, 1985,(6). DOI:
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光纤面板刀口响应、微光物镜杂散光和T值测试仪鉴定会由兵器工业部五局主持
于一九八五年四月一日至五日在昆明云南光学仪器厂召开。经过鉴定组严格测试
证明:这三种测试仪器性能稳定、精度高、工作可靠
均顺利通过鉴定。兵器工业部211所高级工程师莫保民任鉴定组主任委员
五局代表李佳仪出席会议并主持开幕式。代表们一致认为
这三种微光夜视测试仪器的研制成功对发展我国微光夜视技术
提高我国微光夜视仪器的质量
具有重要意义。
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