浏览全部资源
扫码关注微信
纸质出版:1985
移动端阅览
会议报导(一)[J]. 光学技术, 1985,(6).
会议报导(一)[J]. 光学技术, 1985,(6). DOI:
DOI:
兵器工业部于一九八五年四月十六日至十九日于北京主持了“透射式光学角规”科研成果技术鉴定会
参加会议的有来自中国计量科学院、航空工业部第三○四研究所、中国科院长春光机所等二十多个单位三十多名代表。鉴定会认为
由北京工业学院和国营云南光学仪器厂共同研制的透射式光学角规
是一种新的高精度小角度检测手段。它可用于各类自准直仪
经纬仪和分光仪秒盘等小角度测量仪器示值误差的检测
亦可检测二维示值误差。透射式光学角规在0~15′范围内偏向角
0
浏览量
9
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构