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纸质出版:1986
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陶凤翔. 光学仪器象质和公差的相互关系[J]. 光学技术, 1986,(3):5-7.
陶凤翔. 光学仪器象质和公差的相互关系[J]. 光学技术, 1986,(3):5-7. DOI:
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一、引言众所周知
光学设计人员要设计一个光学系统
既要使它达到如系统的总焦距、视场、放大率、后截距等许多指标
又要通过光学计算使系统的象质满足设计要求。同时在它的加工和装配过程中
允许有较大的误差(即“公差容限”)。很显然
在系统的象质满足设计要求的条件下
公差容限愈大
光学系统的加工和装配愈方便
这样可以降低成本
适合于仪器的大批量生产。至此就涉及到如何确定合理的公差容限的问题。目前
人们根据长期积累的经验
通过近似公式的估算
来确定公差的容限。但是
由于光学系统中各镜面在加工和装配中的误差
使它成为一个非共轴的系统。例如
镜面之间的不同心和透镜与镜框之间间隙导致光轴
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