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1:福州市福建物质结构研究所
纸质出版:1988
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林瑜. 用两束激光测量薄膜厚度[J]. 光学技术, 1988,(3).
林瑜. 用两束激光测量薄膜厚度[J]. 光学技术, 1988,(3). DOI:
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采用Mitsubishi电子公司生产的MD2301型厚度测量系统可测量涂在薄膜上的各种各样镀膜层的厚度或者薄膜本身的厚度。
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