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1:江苏省淮阴师专物理科
纸质出版:1989
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詹佑邦. 利用两束激光测量薄膜厚度[J]. 光学技术, 1989,(5).
詹佑邦. 利用两束激光测量薄膜厚度[J]. 光学技术, 1989,(5). DOI:
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日本Mitsubishi电气公司研制出一种现代化的MD2301厚度测试系统
该系统能够测量涂敷在薄膜上的各种类型涂层的厚度或者这些薄膜自身的厚度。在生产这些薄膜时
薄膜在进给辊上运行
在薄膜和薄膜进给辊之间会出现一个小间
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