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1:苏州第四光学仪器厂
纸质出版:1989
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张苏春. 多边形扫描角的干涉测量[J]. 光学技术, 1989,(6).
张苏春. 多边形扫描角的干涉测量[J]. 光学技术, 1989,(6). DOI:
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一种新型的干涉仪可用于测量一物体的两个表面的角关系。这种发明与先前不同的是:它包括了不同物体的相对位置的测量
此装置使用Ludman干涉仪
可测量物镜间的任一角度
如两侧面的光学多边形扫描角。
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