光电式光圈测试仪设计原理

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光电式光圈测试仪设计原理

更新时间：2025-09-01

- 光电式光圈测试仪设计原理
- Fundamentals of photoelectric Aperture Tester
- 光学技术 1990年第4期页码：37-42
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  中图分类号：
- 纸质出版：1990
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李为, 陈南光, 刘淑君. 光电式光圈测试仪设计原理[J]. 光学技术, 1990,(4):37-42.

Fundamentals of photoelectric Aperture Tester[J]. 1990, (4): 37-42.
李为, 陈南光, 刘淑君. 光电式光圈测试仪设计原理[J]. 光学技术, 1990,(4):37-42. DOI：

Fundamentals of photoelectric Aperture Tester[J]. 1990, (4): 37-42. DOI：

本文简述该测试仪的工作原理和主要特点

并分析影响光圈测试精度的有关因素。

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