浏览全部资源
扫码关注微信
1: 宁夏吴忠微型试验仪器厂
纸质出版:1990
移动端阅览
Pan Shi Erik Stijns, 马素琳. 测量小旋转角的新的光学方法[J]. 光学技术, 1990,(6):23-25.
Pan Shi Erik Stijns, 马素琳. 测量小旋转角的新的光学方法[J]. 光学技术, 1990,(6):23-25. DOI:
DOI:
一、引言转动测量虽然是个机械问题
但常采用光学方法
例如在光学编码器里或莫尔条纹图形技术里。用于干涉测量技术能提高测量的灵敏度
这种技术需要一个相干光源。这些装置中的一些是由于其灵敏度过高而使其用途变得有限
例如
在1974年Chapman获得了每一条纹57ms的仪器分辨率;另一些则使用特殊的激光器而使装置变得相当昂贵。本文提供的是仅使用通用激光器和通用光学的另一种方法。尽管如此
它们仍给出满意
0
浏览量
22
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构