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1:苏州新华机床厂
纸质出版:1991
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刘利. 相位共轭式干涉仪[J]. 光学技术, 1991,(2).
刘利. 相位共轭式干涉仪[J]. 光学技术, 1991,(2). DOI:
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传统的光学测量
需要将被测物加工成镜面
或者在被测物上安装反射镜或三棱镜
使得光学测量的应用受到了一定的限制。为此
日本工业技术院计量研究所量子部光学测量研究室开发成功了一种新型光学测量系统。由反射定律可知
射入镜面的光线
会从另一方向斜向反射出来
不可能再返回到光源处。而且
粗糙表面反射时有漫反射现象。
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