用投影仪检控边厚差和中心偏差

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用投影仪检控边厚差和中心偏差

更新时间：2025-09-01

- 用投影仪检控边厚差和中心偏差
- Measuring and controlling the edge thickness difference and center aberration With projector
- 光学技术 1991年第3期
- 作者机构：
  
  1:机电部二○五所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1991
- 稿件说明：
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董凤云. 用投影仪检控边厚差和中心偏差[J]. 光学技术, 1991,(3).

Measuring and controlling the edge thickness difference and center aberration With projector[J]. 1991, (3).
董凤云. 用投影仪检控边厚差和中心偏差[J]. 光学技术, 1991,(3). DOI：

Measuring and controlling the edge thickness difference and center aberration With projector[J]. 1991, (3). DOI：

用投影仪检控边厚差和中心偏差的方法

解决了特别小的不可见光透镜、可见光透镜在生产过程中控制边厚差及中心偏差的验收问题。本文还介绍了投影屏上的分划形式

以及调试放大投影像进行测量的方法。

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