以光子计数技术为基础的极低照度测量

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以光子计数技术为基础的极低照度测量

更新时间：2025-09-01

- 以光子计数技术为基础的极低照度测量
- Measurement of extra-low illuminance based on photoncounting technique
- 光学技术 1993年第5期
- 作者机构：
  
  1:北京理工大学工程光学系,100081
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1993
- 稿件说明：
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曹根瑞. 以光子计数技术为基础的极低照度测量[J]. 光学技术, 1993,(5).

Measurement of extra-low illuminance based on photoncounting technique[J]. 1993, (5).
曹根瑞. 以光子计数技术为基础的极低照度测量[J]. 光学技术, 1993,(5). DOI：

Measurement of extra-low illuminance based on photoncounting technique[J]. 1993, (5). DOI：

微照度计的测量灵敏度通常限于1×10~(-6)lx水平

这在许多场合都不能满足要求。但只要确定了光通量与光子速率之间的内在联系

利用光子计数器和微照度计的结合

就可以把微照度的测量灵敏度提高到1×10~(-10)lx水平。文中导出了光通量与光子速率的理论计算公式;介绍了极低照度测量实验系统;并根据光子计数器的时间分辨率和光子的泊松分布以及暗记数水平

分别分析了微照度测量的上、下限范围。

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