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1:武汉华中理工大学
纸质出版:1994
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廖兆曙, 陶景光, 杨坤涛. 晶体双折射测量的干涉条纹重迭法[J]. 光学技术, 1994,(1).
Birefringence measurements using overlapping of interference fringes[J]. 1994, (1).
廖兆曙, 陶景光, 杨坤涛. 晶体双折射测量的干涉条纹重迭法[J]. 光学技术, 1994,(1). DOI:
Birefringence measurements using overlapping of interference fringes[J]. 1994, (1). DOI:
本文介绍用干涉条纹的重迭与否测量晶体双折射。作者用干涉条纹取代光栅的Talbot像,主要优点是条纹的对比度好。
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