实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪

沈为民; 包仁

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实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪

更新时间：2025-09-01

- 实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪
- Experimental Evaluation of Flat-Field Spectrograph with a Holographic Concave Grating
- 光学技术 1998年第1期
- 作者机构：
  
  1:苏州大学信息光学工程研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1998
- 稿件说明：
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沈为民, 包仁. 实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪[J]. 光学技术, 1998,(1).

Experimental Evaluation of Flat-Field Spectrograph with a Holographic Concave Grating[J]. 1998, (1).
沈为民, 包仁. 实验评估全息凹面光栅平场摄谱仪[J]. 光学技术, 1998,(1). DOI：

Experimental Evaluation of Flat-Field Spectrograph with a Holographic Concave Grating[J]. 1998, (1). DOI：

摘要

阐述ＳＰＤ－Ｉ型全息凹面衍射光栅平场摄谱仪的基本工作原理和仪器结构，详细报导了该仪器的适用波长范围、平直谱面长度、倒数线色散率和光谱带宽等主要技术性能的光学测试方法和实验结果。测量结果表明在设计波长范围（４００至８００ｍｍ）内像差校正良好，获得的平直谱面可与光敏面长度为一英寸（２３．５ｃｍ）的多通道探测器相配；仪器的色散相当均匀（约１７ｎｍ／ｍｍ），在５７９．９６ｎｍ波长处测得的光谱带宽为１ｎｍ，能满足一般光学多通道分析仪的要求。

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Experimental Evaluation of Flat-Field Spectrograph with a Holographic Concave Grating

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