利用Mach-Zehnder干涉仪测量晶体的折射率与光学均匀性

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更新时间：2025-09-01

- 利用Mach-Zehnder干涉仪测量晶体的折射率与光学均匀性
- Measuring Refractive Index and Optical Homogeneity of Crytal with MachZehndr Interferometer
- 光学技术 1998年第1期
- 作者机构：
  
  1:西北工业大学应用物理系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  陕西省自然科学发展计划
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1998
- 稿件说明：
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杨德兴, 赵建林, 李恩普. 利用Mach-Zehnder干涉仪测量晶体的折射率与光学均匀性[J]. 光学技术, 1998,(1).

Measuring Refractive Index and Optical Homogeneity of Crytal with MachZehndr Interferometer[J]. 1998, (1).
杨德兴, 赵建林, 李恩普. 利用Mach-Zehnder干涉仪测量晶体的折射率与光学均匀性[J]. 光学技术, 1998,(1). DOI：

Measuring Refractive Index and Optical Homogeneity of Crytal with MachZehndr Interferometer[J]. 1998, (1). DOI：

本文介绍了利用Ｍａｃｈ－Ｚｅｈｎｄｅｒ干涉仪测量平板状透明介质折射率的方法，给出了测量公式，分析了各种测量误差以及可能达到的测量精度。通过对纯质ＬｉＮｂＯ３晶体片的折射率ｎｅ的测量，证实了该方法的可行性，并表明其特别适合于高折射率的各向异性晶体片折射率的测量。

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