用电子学全息方法测量两平行光束微小夹角

谭海蕴; 赵建林; 郝建华

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用电子学全息方法测量两平行光束微小夹角

更新时间：2025-09-01

- 用电子学全息方法测量两平行光束微小夹角
- Measuring the tittle angle of two parallel light beams using electronics holography
- 光学技术 1998年第5期
- 作者机构：
  
  1:西北工业大学应用物理系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1998
- 稿件说明：
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谭海蕴, 赵建林, 郝建华. 用电子学全息方法测量两平行光束微小夹角[J]. 光学技术, 1998,(5).

Measuring the tittle angle of two parallel light beams using electronics holography[J]. 1998, (5).
谭海蕴, 赵建林, 郝建华. 用电子学全息方法测量两平行光束微小夹角[J]. 光学技术, 1998,(5). DOI：

Measuring the tittle angle of two parallel light beams using electronics holography[J]. 1998, (5). DOI：

摘要

提出一种根据电子学全息原理测量两平行光束微小夹角的方法，其基本思路是，用ＣＣＤ作为记录介质经图像采集卡将双光束干涉条纹图像采集于计算机中，并通过离散傅里叶变换实现干涉条纹图像从空域到频域的变换，根据所得到的频谱分布图，获取条纹数并算出条纹间距，进而推算出两平行光束的夹角。详细地阐述了该方法的原理，通过实验验证了其测量微小光束夹角的可行性，对其测量精度、范围和角度分辨率作了定量地分析。

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