显微成像检测表面粗糙度

王仲春; 高岳; 黄粤熙; 胡士凌; 高稚允

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显微成像检测表面粗糙度

更新时间：2025-09-01

- 显微成像检测表面粗糙度
- Detection of surface roughness by using micro imaging
- 光学技术 1998年第5期
- 作者机构：
  
  1:北京理工大学光电工程系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：1998
- 稿件说明：
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王仲春, 高岳, 黄粤熙, 等. 显微成像检测表面粗糙度[J]. 光学技术, 1998,(5).

Detection of surface roughness by using micro imaging[J]. 1998, (5).
王仲春, 高岳, 黄粤熙, 等. 显微成像检测表面粗糙度[J]. 光学技术, 1998,(5). DOI：

Detection of surface roughness by using micro imaging[J]. 1998, (5). DOI：

摘要

介绍了用显微成像检测表面粗糙度的方法。该方法具有直观，操作简单，速度快，非接触无损伤，自动检测等优点。显微成像检测表面粗糙度的原理为：被检测表面通过显微放大，由ＣＣＤ作为接收器，经图像采集卡和微机进行数据采集与处理，计算后得到相应的粗糙度。这种方法用于机械加工表面，喷涂等表面检测，对电化学处理表面，指纹，皮肤，细胞等细微结构的检测更具有优越性。

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