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1:清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室
纸质出版:1999
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王林, 曹芒, 李达成. LLL型X射线干涉仪中的晶片厚度的最佳选择[J]. 光学技术, 1999,(1).
Optimization of the lamella thickness of the LLL interferometer[J]. 1999, (1).
王林, 曹芒, 李达成. LLL型X射线干涉仪中的晶片厚度的最佳选择[J]. 光学技术, 1999,(1). DOI:
Optimization of the lamella thickness of the LLL interferometer[J]. 1999, (1). DOI:
要实现X射线干涉测量,关键是Moire条纹要有良好的对比度,接收信号要有足够的强度。影响Moire条纹对比度及信号强度的因素很多,仅对通过优化干涉仪中晶片的尺寸实现Moire条纹高对比度及信号高强度的方法进行了理论分析。
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