MCT探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法

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更新时间：2025-09-01

- MCT探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法
- One method for measuring MCT detector effective intensity of Franz-Keldysh effect
- 光学技术 2001年第2期页码：129-131
- 作者机构：
  
  1. 1:应用电子学研究所,四川,绵阳,621900
  2. 2:电子科技大学光电子技术系,四川,成都,610054
  3. 3:电子科技大学光电子技术系,四川,成都,610054
  4. 4:电子科技大学光电子技术系,四川,成都,610054
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国防科工委“九五”预研项目
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2001
- 稿件说明：
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李正东, 叶玉堂, 李家旭, 等. MCT探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法[J]. 光学技术, 2001,(2):129-131.

One method for measuring MCT detector effective intensity of Franz-Keldysh effect[J]. 2001, (2): 129-131.
李正东, 叶玉堂, 李家旭, 等. MCT探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法[J]. 光学技术, 2001,(2):129-131. DOI：

One method for measuring MCT detector effective intensity of Franz-Keldysh effect[J]. 2001, (2): 129-131. DOI：

通常只有使用较为昂贵、精密的实验设备才能获得 MCT探测器响应波长的偏移量

才可确定 MCT探测器 Franz- Keldysh(以下简写为 F- K)效应的强度。提出一种表征 MCT探测器 F- K效应有效强度的简易方法

即用 MCT探测器在零偏压及反偏压时的输出电压比来表征其 F- K效应有效强度的强弱。实验结果证实了这种方法有效、可行。

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