使用子孔径拼接法检测大口径光学元件

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使用子孔径拼接法检测大口径光学元件

更新时间：2025-09-01

- 使用子孔径拼接法检测大口径光学元件
- Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer
- 光学技术 2001年第6期页码：516-517
- 作者机构：
  
  1. 1:四川大学光电系
  2. 2:成都精密光学工程研究中心
  3. 3:成都精密光学工程研究中心
  4. 4:四川大学光电系,四川,成都,610064
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2001
- 稿件说明：
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张蓉竹, 杨春林, 许乔, 等. 使用子孔径拼接法检测大口径光学元件[J]. 光学技术, 2001,(6):516-517.

Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer[J]. 2001, (6): 516-517.
张蓉竹, 杨春林, 许乔, 等. 使用子孔径拼接法检测大口径光学元件[J]. 光学技术, 2001,(6):516-517. DOI：

Testing the large aperture optical components by the stitching interferometer[J]. 2001, (6): 516-517. DOI：

为了解决大口径光学元件检测过程中成本高、空间分辨率低这两个主要难点

提出了使用小口径、高精度干涉仪分次检测大口径元件

然后通过优化算法将检测结果进行拼接处理

最终得到原大口径元件波前信息的方法

并作了初步的拼接模拟实验

确认了这一方案的可行性。

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