合肥X射线衍射光束线单色仪中晶体反射曲线的测量

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更新时间：2025-09-01

- 合肥X射线衍射光束线单色仪中晶体反射曲线的测量
- Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL
- 光学技术 2001年第6期页码：541-542
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科技大学国家同步辐射实验室
  2. 2:中国科技大学国家同步辐射实验室
  3. 3:中国科技大学国家同步辐射实验室
  4. 4:中国科技大学国家同步辐射实验室,安徽,合肥,230029
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2001
- 稿件说明：
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王峰, 徐朝银, 潘国强, 等. 合肥X射线衍射光束线单色仪中晶体反射曲线的测量[J]. 光学技术, 2001,(6):541-542.

Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL[J]. 2001, (6): 541-542.
王峰, 徐朝银, 潘国强, 等. 合肥X射线衍射光束线单色仪中晶体反射曲线的测量[J]. 光学技术, 2001,(6):541-542. DOI：

Measurement of the reflection curve of crystals used in the monochromator of X-ray diffraction Beamline at NSRL[J]. 2001, (6): 541-542. DOI：

合肥X射线衍射光束线装备了一台以两晶体无色散 ( +n

-n)排列

能量可连续扫描

空间位置固定输出为特点的双晶单色仪。选用单晶硅作为分光元件

它所对应的不同能量产生的全反射的本征宽度决定了双晶单色仪的分辨率。因此

晶体在投入使用之前

测量它的本征宽度

为单色仪的调试提供依据是非常必要的。介绍了用于合肥X射线衍射光束线单色仪中两块晶体的测量

包括测试方法、装置、测量结果和分析。

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