半导体激光自混频干涉技术对振幅的测量

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半导体激光自混频干涉技术对振幅的测量

更新时间：2025-09-01

- 半导体激光自混频干涉技术对振幅的测量
- Self-mixing interference technique in a diode laser for measuring Amplitude
- 光学技术 2002年第3期页码：287-288
- 作者机构：
  
  1. 1:延边大学理工学院物理系
  2. 2:延边大学理工学院物理系
  3. 3:延边大学理工学院物理系,吉林,133002
  4. 4,吉林,133002
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2002
- 稿件说明：
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邵静波, 王玉兰, 洪光. 半导体激光自混频干涉技术对振幅的测量[J]. 光学技术, 2002,(3):287-288.

Self-mixing interference technique in a diode laser for measuring Amplitude[J]. 2002, (3): 287-288.
邵静波, 王玉兰, 洪光. 半导体激光自混频干涉技术对振幅的测量[J]. 光学技术, 2002,(3):287-288. DOI：

Self-mixing interference technique in a diode laser for measuring Amplitude[J]. 2002, (3): 287-288. DOI：

激光自混频干涉是一种非常特别的现象

在许多应用中

通常都尽可能地避开来自各种各样的光器件反馈到激光器腔内的光

把它看成是有害的

例如 :来自光纤端面、或大型光学系统中的各个小光学镜面表面的反射光

这些光都能增加噪声及改变半导体激光的一些特性

这种性质的惊人影响已由Lenstra[1] 等人详尽描述过。然而

激光自混频干涉技术正是应用这种外反馈光携带的可被提取的信息对振动振幅和频率进行测量。

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