体全息存储中SLM和CCD的性能对页内噪声的影响

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更新时间：2025-09-01

- 体全息存储中SLM和CCD的性能对页内噪声的影响
- Effect of performance of SLM and CCD on intrapage noise in volume
- 光学技术 2002年第6期页码：543-544
- 作者机构：
  
  1. 1:清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
  2. 2:清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
  3. 3:清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
  4. 4:清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家重点基础研究 973资助项目 (G19990 330 )
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2002
- 稿件说明：
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黄雄斌, 何庆声, 王建岗, 等. 体全息存储中SLM和CCD的性能对页内噪声的影响[J]. 光学技术, 2002,(6):543-544.

Effect of performance of SLM and CCD on intrapage noise in volume[J]. 2002, (6): 543-544.
黄雄斌, 何庆声, 王建岗, 等. 体全息存储中SLM和CCD的性能对页内噪声的影响[J]. 光学技术, 2002,(6):543-544. DOI：

Effect of performance of SLM and CCD on intrapage noise in volume[J]. 2002, (6): 543-544. DOI：

体全息存储系统中通常采用SLM和CCD作为输入输出器件。SLM和CCD的性能包括填充因子、对比度和像素形状

这些性能会对像面页内像素间干涉程度产生很大的影响

进而影响页内噪声的大小。针对这一问题

首先进行了理论分析

然后通过计算机模拟了实际系统

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