用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨

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更新时间：2025-09-01

- 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨
- Study of the CCD sensor imaging resolution of the imaging reconnaissance
- 光学技术 2003年第1期页码：94-95
- 作者机构：
  
  1:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春,130022
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2003
- 稿件说明：
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陶家生. 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨[J]. 光学技术, 2003,(1):94-95.

Study of the CCD sensor imaging resolution of the imaging reconnaissance[J]. 2003, (1): 94-95.
陶家生. 用于成像侦察的CCD探测器成像分辨力的探讨[J]. 光学技术, 2003,(1):94-95. DOI：

Study of the CCD sensor imaging resolution of the imaging reconnaissance[J]. 2003, (1): 94-95. DOI：

通过对CCD探测器成像过程的模拟

分析了CCD成像在像元几何尺寸及成像灰度方面的数字离散化特征对CCD成像分辨力的影响

给出了CCD成像分辨力与CCD像元分辨力的关系

同时也给出了在相应情况下的调制度传递函数(MTF)的数值。

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