TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形

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TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形

更新时间：2025-09-01

- TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形
- Deformation measurement of nanotubes by tem nano-moiré method
- 光学技术 2003年第5期页码：515-517
- 作者机构：
  
  1. 1:清华大学工程力学系
  2. 2:清华大学工程力学系
  3. 3:清华大学机械工程系
  4. 4:清华大学工程力学系
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(10232030);国家教委回国人员起动基金(02010261)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2003
- 稿件说明：
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尚海霞, 谢惠民, 朱宏伟, 等. TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形[J]. 光学技术, 2003,(5):515-517.

Deformation measurement of nanotubes by tem nano-moiré method[J]. 2003, (5): 515-517.
尚海霞, 谢惠民, 朱宏伟, 等. TEM纳米云纹法测量纳米碳管变形[J]. 光学技术, 2003,(5):515-517. DOI：

Deformation measurement of nanotubes by tem nano-moiré method[J]. 2003, (5): 515-517. DOI：

提出了透射电子显微镜(TEM)纳米云纹法的新技术

首次将该方法用于单根单壁碳纳米管的残余变形测量。纳米云纹由计算机显示器扫描线与碳纳米管束TEM图像干涉而成。该方法具有纳米级空间分辨率

可直接测量碳纳米管的力学性能。对TEM纳米云纹法的原理进行了详细的阐述

并利用不同管径的单壁碳管束产生了云纹。对直径为7.5nm的弯曲碳管束的残余变形进行测量

直接得到了其中一根直径为1.0nm的单壁碳管的残余变形场。实验结果证明了该方法的可行性。该方法为纳米尺度的碳管力学性能测量提供了新途径。

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