基于加权减影的非等厚工件的X射线检测

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于加权减影的非等厚工件的X射线检测

更新时间：2025-09-01

- 基于加权减影的非等厚工件的X射线检测
- Inspection for the uneven workpieces on the base of subtracting the background and weighted averaging
- 光学技术 2003年第5期页码：590-591
- 作者机构：
  
  1. 1:北京航空航天大学现代无损检测中心
  2. 2:山东大学控制科学与工程学院,北京,100083
  3. 3,济南,250010
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2003
- 稿件说明：
移动端阅览
孔凡琴, 贾磊. 基于加权减影的非等厚工件的X射线检测[J]. 光学技术, 2003,(5):590-591.

Inspection for the uneven workpieces on the base of subtracting the background and weighted averaging[J]. 2003, (5): 590-591.
孔凡琴, 贾磊. 基于加权减影的非等厚工件的X射线检测[J]. 光学技术, 2003,(5):590-591. DOI：

Inspection for the uneven workpieces on the base of subtracting the background and weighted averaging[J]. 2003, (5): 590-591. DOI：

针对X射线对厚度不均匀工件进行DR(DigitalRadiography)缺陷检测需要两次成像的问题

以实现一次成像全方位检测缺陷为目的

提出了减影和加权的处理方法。运用这种方法

恰当地提取每个像素点中的背景因素

把像素点之间相互影响的程度用合理的权重表达

最终改善了灰度显示的动态范围

降低了噪声对图像的污染、保护了缺陷的边缘和细节。

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

双线阵CCD光学拼接与误差分析研究

相关哈特曼-夏克波前传感器波前重构新方法

JZ-1星座CCD摄像机光学系统F数的选择

超高动态CCD摄像机63W1的特性分析

MCP的动态范围与增益—调整MCP电压提高成像清晰度的讨论