利用DIP技术测定荷质比

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利用DIP技术测定荷质比

更新时间：2025-09-01

- 利用DIP技术测定荷质比
- Measurement of the charge-mass ratio of electron using digital image processing (DIP) technique
- 光学技术 2004年第3期页码：327-329
- 作者机构：
  
  1. 1:山东大学光电系
  2. 2:山东大学光电系
  3. 3:山东大学光电系,济南,250100
  4. 4,济南,250100
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  教育部世行贷款面向21世纪初教学改革项目赞助课题(128IE08212)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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魏爱俭, 刘明, 祁海峰. 利用DIP技术测定荷质比[J]. 光学技术, 2004,(3):327-329.

Measurement of the charge-mass ratio of electron using digital image processing (DIP) technique[J]. 2004, (3): 327-329.
魏爱俭, 刘明, 祁海峰. 利用DIP技术测定荷质比[J]. 光学技术, 2004,(3):327-329. DOI：

Measurement of the charge-mass ratio of electron using digital image processing (DIP) technique[J]. 2004, (3): 327-329. DOI：

将数字图像处理(DIP)技术用于汞546.1nm谱线塞曼分裂横效应π谱线、σ谱线的图像处理

建立了CCD实时测量系统。通过多图像平均

图像细化

取样分析

快速方便地测量计算了电子的荷质比。结果表明

直接测量无法分辨的σ谱线可以通过数字图像处理测量;测量π谱线引起的相对误差小于1%

比直接测量法降低了近一个数量级。

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