基于可靠性的相位去包裹算法

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于可靠性的相位去包裹算法

更新时间：2025-09-01

- 基于可靠性的相位去包裹算法
- Phase unwrapping algorithm based on the reliability
- 光学技术 2004年第4期页码：510-512
- 作者机构：
  
  1. 1:湖南大学机械与汽车工程学院
  2. 2:湖南大学机械与汽车工程学院
  3. 3:湖南大学机械与汽车工程学院,湖南,长沙,410082
  4. 4:湖南长沙　410082 中国科学院自动化研究所模式识别国家重点实验室北京,100807
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  教育部智能制造技术重点实验室开放基金资助项目(Imtsu 2002 16)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
移动端阅览
郑刚, 王文格, 罗春红. 基于可靠性的相位去包裹算法[J]. 光学技术, 2004,(4):510-512.

Phase unwrapping algorithm based on the reliability[J]. 2004, (4): 510-512.
郑刚, 王文格, 罗春红. 基于可靠性的相位去包裹算法[J]. 光学技术, 2004,(4):510-512. DOI：

Phase unwrapping algorithm based on the reliability[J]. 2004, (4): 510-512. DOI：

提出了一种新的基于可靠性的相位去包裹算法。采用了队列算法及去包裹可靠性的判别标准。与传统方法相比

能够自动避开噪声区域

解决了相位去包裹中的阴影遮挡以及空洞等问题

克服了传统去包裹方法中的误差传播效应

能准确快速地对全场进行相位去包裹。设计了一套基于此算法的三维形面测量系统。

浏览量

250

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

1+2维强非局域非线性介质中高阶孤子的大相移

半导体光放大器中光波传输特性研究

一种实现单步相移无透镜傅里叶同轴数字全息的倒频谱技术

自准直干涉仪测光纤非线性克尔系数的误差分析

基于条纹等值线相关的散斑条纹图处理新方法