红外密集度光电立靶精度分析

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红外密集度光电立靶精度分析

更新时间：2025-09-01

- 红外密集度光电立靶精度分析
- Infrared photoelectric target accuracy analysis
- 光学技术 2004年第6期页码：758-760
- 作者机构：
  
  1. 1:西安工业学院光电测试技术研究所
  2. 2:西安工业学院光电测试技术研究所
  3. 3:西安工业学院光电测试技术研究所
  4. 4:西安工业学院光电测试技术研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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刘群华, 施浣芳, 阎秉先, 等. 红外密集度光电立靶精度分析[J]. 光学技术, 2004,(6):758-760.

Infrared photoelectric target accuracy analysis[J]. 2004, (6): 758-760.
刘群华, 施浣芳, 阎秉先, 等. 红外密集度光电立靶精度分析[J]. 光学技术, 2004,(6):758-760. DOI：

Infrared photoelectric target accuracy analysis[J]. 2004, (6): 758-760. DOI：

介绍了红外密集度光电立靶的基本原理。利用误差传递公式

对红外密集度立靶的测量精度进行了分析。结果表明:红外光电立靶测试系统是一种灵敏度高、精度高、效率高的测试仪器。

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