取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法

更新时间：2025-09-01

- 取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法
- New multiple-thin films analysis method on sampled fiber grating
- 光学技术 2005年第3期页码：460-462
- 作者机构：
  
  1. 1:孝感学院物理系
  2. 2:西南交通大学应用物理系孝感　432000西南交通大学应用物理系成都,610031
  3. 3,成都,610031
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  西南交通大学基础发展研究基金资助(2002B03)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2005
- 稿件说明：
移动端阅览
余华清, 姜向东. 取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法[J]. 光学技术, 2005,(3):460-462.

New multiple-thin films analysis method on sampled fiber grating[J]. 2005, (3): 460-462.
余华清, 姜向东. 取样光纤光栅的多层薄膜分析新方法[J]. 光学技术, 2005,(3):460-462. DOI：

New multiple-thin films analysis method on sampled fiber grating[J]. 2005, (3): 460-462. DOI：

将取样光纤光栅看成一个多层薄膜体系

每层膜用界面传输矩阵和膜层传输矩阵表示

将每层的传输矩阵相乘后得到取样光纤光栅的反射谱。数值计算结果表明:取样光纤光栅的总长度、折射率调制深度、占空比、取样周期和啁啾系数等参数都会影响反射谱的峰值和带宽。该模型的精度满足设计要求。

浏览量

117

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

光子晶体理论应用于取样光纤光栅的研究

串联光子晶体磁控滤波偏光器

Er³⁺:Yb³⁺共掺固体激光器的谐振腔设计及实验研究

数值研究含有负折射率材料的一维光子晶体的带隙特性

19.5nm极紫外反射镜的研制