应力盘智能控制盘面面形的表征方法及检测技术的研究

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更新时间：2025-09-01

- 应力盘智能控制盘面面形的表征方法及检测技术的研究
- Method for representing the surface and testing technology of stressed-lap in CMAC controller
- 光学技术 2005年第5期页码：751-753
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院光电技术研究所
  2. 2:中国科学院光电技术研究所
  3. 3:中国科学院光电技术研究所
  4. 4:中国科学院光电技术研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家863高技术资助项目
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2005
- 稿件说明：
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范斌, 杨力, 曾志革, 等. 应力盘智能控制盘面面形的表征方法及检测技术的研究[J]. 光学技术, 2005,(5):751-753.

Method for representing the surface and testing technology of stressed-lap in CMAC controller[J]. 2005, (5): 751-753.
范斌, 杨力, 曾志革, 等. 应力盘智能控制盘面面形的表征方法及检测技术的研究[J]. 光学技术, 2005,(5):751-753. DOI：

Method for representing the surface and testing technology of stressed-lap in CMAC controller[J]. 2005, (5): 751-753. DOI：

分析了CMAC神经网络应力盘智能控制中面形表征及检测的特点

提出了以Zernike多项式系数用于表征应力盘盘面面形的方法

以微位移阵列传感器检测得到的原始数据经插值拟合重构出盘面面型数据

再经Gram-Schimdt正交化后拟合出的Zernike多项式的系数

以此作为CMAC神经网络的输入样本来完成CMAC神经网络的训练。并在实验中初步验证了此方法的可行性。

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