大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术研究

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更新时间：2025-09-01

- 大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术研究
- Research on measuring technique for image sensors' uniformity of the CCD image-forming system with large-field angle
- 光学技术 2005年第6期
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  2. 2:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
  3. 3:北京电子科技学院
  4. 4:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2005
- 稿件说明：
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张鑫, 林家明, 张哲, 等. 大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术研究[J]. 光学技术, 2005,(6).

Research on measuring technique for image sensors' uniformity of the CCD image-forming system with large-field angle[J]. 2005, (6).
张鑫, 林家明, 张哲, 等. 大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术研究[J]. 光学技术, 2005,(6). DOI：

Research on measuring technique for image sensors' uniformity of the CCD image-forming system with large-field angle[J]. 2005, (6). DOI：

以光度学为理论基础

研究了大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术。论述了600~800mm非对称、双半球不等半径积分球的设计方案。对像面均匀性测试系统的积分球出口进行了测试

出口处的照度不均匀性不高于2.3%

照度不稳定性不高于2.7%

积分球后半球内表面的亮度不均匀性不高于4.4%。在对测试结果进行误差分析的基础上

对大视场CCD摄像机进行了实际测试。结果表明

该装置可广泛应用于光电成像系统的像面均匀性测量。

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