数值分析在不同偏振时复杂样品的近场强度分布

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更新时间：2025-09-01

- 数值分析在不同偏振时复杂样品的近场强度分布
- Numerical analysis of near-field intensity distribution above complex samples with different polarization
- 光学技术 2006年第3期页码：337-339
- 作者机构：
  
  1. 1:大连理工大学物理系
  2. 2:大连理工大学物理系
  3. 3:大连理工大学物理系
  4. 4:大连理工大学物理系,辽宁,大连,116024
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金项目(30270367);教育部博士点基金资助(2002141018)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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代云丽, 简国树, 李宏, 等. 数值分析在不同偏振时复杂样品的近场强度分布[J]. 光学技术, 2006,(3):337-339.

Numerical analysis of near-field intensity distribution above complex samples with different polarization[J]. 2006, (3): 337-339.
代云丽, 简国树, 李宏, 等. 数值分析在不同偏振时复杂样品的近场强度分布[J]. 光学技术, 2006,(3):337-339. DOI：

Numerical analysis of near-field intensity distribution above complex samples with different polarization[J]. 2006, (3): 337-339. DOI：

采用三维时域有限差分法(FDTD)

模拟计算了光子扫描隧道显微镜(PSTM)系统中的介质和银质金属样品在不同偏振模式光源下的近场强度分布。使用介质小样品检验探针性能

在探针不同位置计算得到了相似的近场强度分布图

说明编写的程序是可信的。给出了等高扫描时p偏振和s偏振条件下

“PSTM”字样介质样品和银质金属样品上方5nm处的近场强度分布图

结果显示:对介质样品

p偏振波能较好的反映样品的形貌

这是由入射电场的方向决定的;银质金属有表面增强作用

对不同偏振波均能在某种程度上反映样品的形貌

仍有待近一步的研究。

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