Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算

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更新时间：2025-09-01

- Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算
- The calculation of stimulated-emission cross-section and the testing of fluorescence lifetime of Nd∶GGG crystal
- 光学技术 2006年第2期页码：193-195
- 作者机构：
  
  1. 1:长春理工大学理学院
  2. 2:长春理工大学理学院
  3. 3:长春理工大学理学院
  4. 4:长春理工大学理学院
- 作者简介：
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  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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李昌立, 孙晶, 曾繁明, 等. Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算[J]. 光学技术, 2006,(2):193-195.

The calculation of stimulated-emission cross-section and the testing of fluorescence lifetime of Nd∶GGG crystal[J]. 2006, (2): 193-195.
李昌立, 孙晶, 曾繁明, 等. Nd∶GGG晶体荧光寿命的测试及受激发射截面的计算[J]. 光学技术, 2006,(2):193-195. DOI：

The calculation of stimulated-emission cross-section and the testing of fluorescence lifetime of Nd∶GGG crystal[J]. 2006, (2): 193-195. DOI：

介绍了荧光寿命的测试原理。设计了荧光寿命测试系统。利用脉冲取样技术测试了Nd∶GGG晶体的荧光寿命

约为250μs。采用英国的荧光光谱仪

在室温条件下

用波长为488nm的Ar离子激光器激发Nd:GGG晶体

获得了Nd:GGG晶体的荧光光谱

计算出的Nd∶GGG晶体的受激发射截面σ(λ)为21.57×10-20cm2。

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