对三代微光管光谱响应的测试分析

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

对三代微光管光谱响应的测试分析

更新时间：2025-09-01

- 对三代微光管光谱响应的测试分析
- Spectral response measurement and analysis of third-generation LLL tube
- 光学技术 2006年第3期页码：364-366
- 作者机构：
  
  1. 1:滨州学院物理科学与工程系
  2. 2:南京理工大学电子工程与光电技术学院
  3. 3:滨州学院物理科学与工程系,山东,滨州,256600
  4. 4,南京,210094
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
移动端阅览
杜玉杰, 常本康, 纪延俊. 对三代微光管光谱响应的测试分析[J]. 光学技术, 2006,(3):364-366.

Spectral response measurement and analysis of third-generation LLL tube[J]. 2006, (3): 364-366.
杜玉杰, 常本康, 纪延俊. 对三代微光管光谱响应的测试分析[J]. 光学技术, 2006,(3):364-366. DOI：

Spectral response measurement and analysis of third-generation LLL tube[J]. 2006, (3): 364-366. DOI：

利用自行研制的光谱响应测试仪对国产三代微光管进行了光谱响应测试

给出了三代微光管的光谱响应特性

利用曲线拟合方法估算了GaAs光电阴极材料的性能参数。结果显示该三代微光管的积分灵敏度约800μA/lm左右

所选GaAs材料的电子扩散长度为2.0μm

与1.6μm的阴极厚度相当

电子表面逸出几率为0.38

后界面复合速率为106cm/s。发现GaAs材料的扩散长度偏低

以及阴极的后界面复合速率太大是限制三代微光管光电发射性能进一步提高的重要原因。

浏览量

109

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

基于传递标准探测器的远紫外电离层光度计定标技术研究

像增强器光阴极在热冲击环境下噪声频谱分析

数字图像技术的数字滤光方法在图像测温中的应用

探测器光谱响应对光谱仪器波长标定中谱峰位置的影响

弹上激光接收机的光谱响应特性检测研究