用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能

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用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能

成像系统与图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能
- Analyzing the characteristic of micro-bend fiber sensor with optics information theory
- 光学技术 2006年32卷第S1期页码：283-285
- 作者机构：
  
  1. 1:北京师范大学信息科学与技术学院电子系
  2. 2:中国铁通集团有限公司网络运行部数据网管维护中心
  3. 3:北京航空航天大学光电技术研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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何珺, 赵桂燕, 徐宏杰. 用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能[J]. 光学技术, 2006,32(S1):283-285.

Analyzing the characteristic of micro-bend fiber sensor with optics information theory[J]. 2006, 32(S1): 283-285.
何珺, 赵桂燕, 徐宏杰. 用光学信息理论分析微弯光纤传感器的性能[J]. 光学技术, 2006,32(S1):283-285. DOI：

Analyzing the characteristic of micro-bend fiber sensor with optics information theory[J]. 2006, 32(S1): 283-285. DOI：

通过把光学信息理论应用于微弯光纤传感器

用信息量评估测量性能

提出了一种优化系统性能和参数设计的光学信息理论。通过理论推导、直观评价和实验设计

证明了这一思想的正确性和可行性。

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