一种适用于玻璃生产线的瑕疵检测算法

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一种适用于玻璃生产线的瑕疵检测算法

光学测量与计量、光学材料、光学工艺 | 更新时间：2025-09-01

- 一种适用于玻璃生产线的瑕疵检测算法
- An algorithm of glass defection on-line detection system
- 光学技术 2006年32卷第S1期页码：23-25
- 作者机构：
  
  1:北京理工大学信息科学技术学院光电工程系
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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金剑光, 魏平. 一种适用于玻璃生产线的瑕疵检测算法[J]. 光学技术, 2006,32(S1):23-25.

An algorithm of glass defection on-line detection system[J]. 2006, 32(S1): 23-25.
金剑光, 魏平. 一种适用于玻璃生产线的瑕疵检测算法[J]. 光学技术, 2006,32(S1):23-25. DOI：

An algorithm of glass defection on-line detection system[J]. 2006, 32(S1): 23-25. DOI：

以一个基于线阵CCD的玻璃生产线检测系统为硬件平台

重点研究了玻璃瑕疵的检测算法。首先提出了卡尔曼滤波器跟踪背景光强变化的方法

利用瑕疵在时间轴上造成的灰度突变来识别瑕疵的到来与结束

然后通过形态学的方法对瑕疵点的坐标进行定位

最后将玻璃瑕疵的位置坐标及其图像送至上位计算机进行分类处理。本文的算法已经固化于FPGA构成的实时处理系统中

实现了精度高达0.1mm的玻璃瑕疵实时检测。

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