子孔径拼接检测非球面的初步研究

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子孔径拼接检测非球面的初步研究

更新时间：2025-09-01

- 子孔径拼接检测非球面的初步研究
- Preliminary study on the test of asphere using sub-aperture stitching method
- 光学技术 2006年第5期页码：673-677
- 作者机构：
  
  1. 1:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所光学技术研究中心
  2. 2:中国科学院研究生院,长春,130033
  3. 3,北京,100039
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家杰出青年基金资助项目(69925512)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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王孝坤, 张学军. 子孔径拼接检测非球面的初步研究[J]. 光学技术, 2006,(5):673-677.

Preliminary study on the test of asphere using sub-aperture stitching method[J]. 2006, (5): 673-677.
王孝坤, 张学军. 子孔径拼接检测非球面的初步研究[J]. 光学技术, 2006,(5):673-677. DOI：

Preliminary study on the test of asphere using sub-aperture stitching method[J]. 2006, (5): 673-677. DOI：

使用子孔径拼接技术可以无需补偿器、大口径的辅助镜、全息图等辅助元件实现对大口径、大偏离量、高陡度非球面甚至离轴非球面的检验

而且可以同时获得中高频的相位信息

大大地提高了测量精度

降低了成本。在总结了常用检测非球面方法优缺点的基础上提出了利用圆形子孔径、环形子孔径检测非球面的基本原理

并对其步骤的实现、数学模型的建立和拼接算法的开发进行了分析和研究。结果表明

子孔径拼接检测技术可以作为补偿检验以外的另一种定量测试非球面的手段

可以和其它检测方法相互验证

从而确保检测的准确性和可靠性。

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