基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形

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光学测量与计量、光学材料、光学工艺 | 更新时间：2025-09-01

- 基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形
- Measurement of large distorted surface profile based on inverse projected-fringe technique
- 光学技术 2006年32卷第S1期页码：323-325
- 作者机构：
  
  1:长春光学精密机械与物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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韩斌, 乔彦峰, 韩旭东, 等. 基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形[J]. 光学技术, 2006,32(S1):323-325.

Measurement of large distorted surface profile based on inverse projected-fringe technique[J]. 2006, 32(S1): 323-325.
韩斌, 乔彦峰, 韩旭东, 等. 基于反相条纹投影技术测量大范围变化的面形[J]. 光学技术, 2006,32(S1):323-325. DOI：

Measurement of large distorted surface profile based on inverse projected-fringe technique[J]. 2006, 32(S1): 323-325. DOI：

在较高精度面形测量的光学方法中

很多测量范围都受到光波波长的限制。简述了一种利用光栅投影系统来增强其垂直方向测量范围的新方法。通过投影仪来产生能够消除表面低频变化影响的变形光栅

测量该栅线经过被检面的变形图像

通过处理得到表面的高频信息

然后将高频和低频信息叠加得到表面轮廓图。通过实验模型的建立证明

该方法具有测量精度范围宽

能实时地得到表面轮廓图。

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