微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响

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微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响

成像系统与图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响
- Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques
- 光学技术 2006年32卷第S1期页码：404-406
- 作者机构：
  
  1:长春光学精密机械与物理研究所技术光学室
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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孟海鸿, 张新, 张建萍. 微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响[J]. 光学技术, 2006,32(S1):404-406.

Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 404-406.
孟海鸿, 张新, 张建萍. 微扫描技术对光电图像混淆噪声的影响[J]. 光学技术, 2006,32(S1):404-406. DOI：

Improvement of noise in opto-electronic image system utilizing microscanning techniques[J]. 2006, 32(S1): 404-406. DOI：

在分析采样理论和微扫描理论的基础上

引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数

定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。

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