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光电经纬仪探测精度的分析及其提高探测精度的措施
光电技术与光学仪器设计 | 更新时间:2025-09-01
    • 光电经纬仪探测精度的分析及其提高探测精度的措施

    • The precision analysis of optoelectronics-theodolite and improvable measure

    • 光学技术   2006年32卷第S1期 页码:199-201
    • 纸质出版:2006

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  • 陈治平, 余旭华, 甘明, 等. 光电经纬仪探测精度的分析及其提高探测精度的措施[J]. 光学技术, 2006,32(S1):199-201. DOI:

    The precision analysis of optoelectronics-theodolite and improvable measure[J]. 2006, 32(S1): 199-201. DOI:

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相关机构

1:中国科学院西安光学精密机械研究所
1:西华大学机械工程与自动化学院
2:西南交通大学机械工程学院
1:国防科技大学机电工程与自动化学院
1:上海理工大学光电信息与计算机工程学院
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