采用二元光学元件的三维轮廓测量方法

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采用二元光学元件的三维轮廓测量方法

仪器、测量与计量 | 更新时间：2025-09-01

- 采用二元光学元件的三维轮廓测量方法
- Approach of measuring 3D profile with binary optical element
- 光学技术 2007年第2期页码：189-192
- 作者机构：
  
  1. 1:苏州大学信息光学研究所
  2. 2:苏州大学信息光学研究所
  3. 3:苏州大学信息光学研究所
  4. 4:苏州大学信息光学研究所,江苏,苏州,215006
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(10474070)
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2007
- 稿件说明：
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王敏怡, 周小红, 魏国军, 等. 采用二元光学元件的三维轮廓测量方法[J]. 光学技术, 2007,(2):189-192.

Approach of measuring 3D profile with binary optical element[J]. 2007, (2): 189-192.
王敏怡, 周小红, 魏国军, 等. 采用二元光学元件的三维轮廓测量方法[J]. 光学技术, 2007,(2):189-192. DOI：

Approach of measuring 3D profile with binary optical element[J]. 2007, (2): 189-192. DOI：

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