利用相关分析法测量空间光调制器的相位调制特性

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信息光学与图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 利用相关分析法测量空间光调制器的相位调制特性
- Characterization for the phase modulator property of spatial light modulators in an optical correlator by using correlation analysis
- 光学技术 2007年第2期页码：216-218
- 作者机构：
  
  1. 1:军械工程学院光学与电子工程系
  2. 2:军械工程学院光学与电子工程系
  3. 3:军械工程学院光学与电子工程系,石家庄,050003
  4. 4,石家庄,050003
- 作者简介：
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  中图分类号：
- 纸质出版：2007
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胡文刚, 王永仲, 华文深. 利用相关分析法测量空间光调制器的相位调制特性[J]. 光学技术, 2007,(2):216-218.

Characterization for the phase modulator property of spatial light modulators in an optical correlator by using correlation analysis[J]. 2007, (2): 216-218.
胡文刚, 王永仲, 华文深. 利用相关分析法测量空间光调制器的相位调制特性[J]. 光学技术, 2007,(2):216-218. DOI：

Characterization for the phase modulator property of spatial light modulators in an optical correlator by using correlation analysis[J]. 2007, (2): 216-218. DOI：

基于一维干涉条纹图像的相关分析法可实现液晶空间光调制器相位调制特性的测试。给出了XGA2L11型电寻址液晶空间光调制器的相位现场测试原理、测试装置和测试步骤。利用范德卢格特型光电混合相关器对测试结果进行了实验验证。结果表明

该方法具有原理简单、适应性强和精度高等优点。

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