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1:厦门大学机电工程系
纸质出版:2006
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吴兆喜, 黄元庆. 基于光学原理的三维形貌测量技术研究[J]. 光学技术, 2006,32(S1):654-658.
Study on optical methods for 3-D shape measurement[J]. 2006, 32(S1): 654-658.
吴兆喜, 黄元庆. 基于光学原理的三维形貌测量技术研究[J]. 光学技术, 2006,32(S1):654-658. DOI:
Study on optical methods for 3-D shape measurement[J]. 2006, 32(S1): 654-658. DOI:
为了加快产品开发和保证产品制造质量需要对物体的三维形貌进行精确的测量。光学形貌测量技术由于其高分辨率、无破坏、数据获取速度快等优点而被认为是最有前途的三维形貌测量方法。介绍了各种基于光学原理的三维形貌测量技术
并作了比较深入的分析和对比
为正确和广泛应用三维形貌测量技术提供了参考。给出了在该领域的发展方向和研究热点。
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