基于包络线法的多孔阳极氧化铝薄膜光学常数的计算

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薄膜光学 | 更新时间：2025-09-01

- 基于包络线法的多孔阳极氧化铝薄膜光学常数的计算
- Determination of optical constant for porous anodic alumina film based on the envelope method
- 光学技术 2007年第4期页码：609-612
- 作者机构：
  
  1. 1:西安工业大学光电工程学院
  2. 2:西安交通大学理学院,西安,710032
  3. 3,西安,710049
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2007
- 稿件说明：
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高芬, 冯异. 基于包络线法的多孔阳极氧化铝薄膜光学常数的计算[J]. 光学技术, 2007,(4):609-612.

Determination of optical constant for porous anodic alumina film based on the envelope method[J]. 2007, (4): 609-612.
高芬, 冯异. 基于包络线法的多孔阳极氧化铝薄膜光学常数的计算[J]. 光学技术, 2007,(4):609-612. DOI：

Determination of optical constant for porous anodic alumina film based on the envelope method[J]. 2007, (4): 609-612. DOI：

采用二步阳极氧化法在草酸溶液中制备了多孔阳极氧化铝(PAA)薄膜。借助于扫描电子显微镜(SEM)分析了多孔阳极氧化铝薄膜的微观形貌。结果发现

在其表面孔径为30~40nm的六边形孔洞分布均匀

且垂直于表面平行生长。依据PAA透射光谱的实验数据

采用极值包络线算法计算出了PAA薄膜的复折射率以及光学能隙等光学常数。通过分析吸收系数与入射光子能量之间的关系发现

PAA薄膜具有直接带隙半导体的电子结构特征

而且由理论计算得到的PAA的带隙能与其光致发光谱的峰位能是一致的。

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