红外光学系统内部构件热辐射分析

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红外光学系统内部构件热辐射分析

光电技术与光学仪器设计 | 更新时间：2025-09-01

- 红外光学系统内部构件热辐射分析
- Stray radiaton analysis caused by interior heat radiation in infrared optical system
- 光学技术 2006年32卷第S1期页码：73-75
- 作者机构：
  
  1:中国科学院上海技术物理研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2006
- 稿件说明：
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陈永和, 傅雨田, 沈学民. 红外光学系统内部构件热辐射分析[J]. 光学技术, 2006,32(S1):73-75.

Stray radiaton analysis caused by interior heat radiation in infrared optical system[J]. 2006, 32(S1): 73-75.
陈永和, 傅雨田, 沈学民. 红外光学系统内部构件热辐射分析[J]. 光学技术, 2006,32(S1):73-75. DOI：

Stray radiaton analysis caused by interior heat radiation in infrared optical system[J]. 2006, 32(S1): 73-75. DOI：

红外光学系统的内部构件由于呈现于光路之中

其表面热辐射将会通过光学系统到达探测像面而引起背景辐射噪声。本文利用LightTools分析软件对一套折反式红外光学系统内部机械构件的主要表面的热辐射进行了分析

得到了探测像面接收到的热辐射的量级。分析了三种不同的表面反射率的情况

能够用于指导如何进行表面处理和结构设计的改善。

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