浏览全部资源
扫码关注微信
1. 1:中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室
2. 2:中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室
3. 3:中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室,北京,100080
4. 4,北京,100080
纸质出版:2008
移动端阅览
才德, 洪文, 吴一戎. 实值纹理自适应描述在图像分类中的应用[J]. 光学技术, 2008,(1):45-47.
Applying the real adaptive texture description in image classification[J]. 2008, (1): 45-47.
才德, 洪文, 吴一戎. 实值纹理自适应描述在图像分类中的应用[J]. 光学技术, 2008,(1):45-47. DOI:
Applying the real adaptive texture description in image classification[J]. 2008, (1): 45-47. DOI:
采用概率框架下基于实值最优小波包基的纹理自适应描述准确分析纹理
并同最大似然分类方法相结合
对纹理图像进行分类研究。充分发挥自适应优点
提出将各纹理类最优描述进行组合的方法
使分类准确率从91%提高到95%。
0
浏览量
117
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构