点阵全息图衍射效率的测量

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点阵全息图衍射效率的测量

光学测量 | 更新时间：2025-09-01

- 点阵全息图衍射效率的测量
- The measurement of diffraction efficiency of dot-matrix holograms
- 光学技术 2008年第3期页码：435-436
- 作者机构：
  
  1. 1:北京理工大学
  2. 2:北京理工大学
  3. 3:北京光谱印宝印刷科技有限责任公司
  4. 4:国家防伪检产品质量监督检验中心,北京,100081
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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哈流柱, 李春香, 周扬斌, 等. 点阵全息图衍射效率的测量[J]. 光学技术, 2008,(3):435-436.

The measurement of diffraction efficiency of dot-matrix holograms[J]. 2008, (3): 435-436.
哈流柱, 李春香, 周扬斌, 等. 点阵全息图衍射效率的测量[J]. 光学技术, 2008,(3):435-436. DOI：

The measurement of diffraction efficiency of dot-matrix holograms[J]. 2008, (3): 435-436. DOI：

提出了测量点阵全息图衍射效率的测试方法和相应的光学系统

其优点在于巧妙让零级与正负二级不能进入聚光系统

只有正负一级可以被记录

并且这种测试方法不受被测点干涉条纹方向变化的影响。并给了几种点阵全息防伪标识的测试结果。

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