图像复原处理方法在显微测量LiNbO<sub>3</sub>表面缺陷中的应用

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图像复原处理方法在显微测量LiNbO₃表面缺陷中的应用

信息光学与图像处理 | 更新时间：2025-09-01

- 图像复原处理方法在显微测量LiNbO₃表面缺陷中的应用
- Method of image reconstruction microscopically measure the surface flaw of LiNbO₃
- 光学技术 2008年第4期页码：586-589
- 作者机构：
  
  1. 1:教育部现代光学技术重点实验室
  2. 2:苏州大学物理科学与技术学院
  3. 3:中国人民解放军理工大学
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
- 纸质出版：2008
- 稿件说明：
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高媛媛, 陶智, 顾济华, 等. 图像复原处理方法在显微测量LiNbO₃表面缺陷中的应用[J]. 光学技术, 2008,(4):586-589.

Method of image reconstruction microscopically measure the surface flaw of LiNbO₃[J]. 2008, (4): 586-589.
高媛媛, 陶智, 顾济华, 等. 图像复原处理方法在显微测量LiNbO₃表面缺陷中的应用[J]. 光学技术, 2008,(4):586-589. DOI：

Method of image reconstruction microscopically measure the surface flaw of LiNbO₃[J]. 2008, (4): 586-589. DOI：

研究了图像复原处理在显微测量中的应用。在实测系统点扩展函数的基础上

首先利用图像复原方法对显微图像进行复原处理

然后用二维处理方法实现对缝宽的精确显微测量。实现了在普通光学显微镜下铌酸锂(LiN- bO_3)极化畴结构样品缺陷大小的便捷测量。

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